LSI電液伺服動(dòng)靜萬能試驗(yàn)系統(tǒng)

用于通用材料和構(gòu)件的測(cè)試應(yīng)用。LSI系列落地型加載框架用于進(jìn)行從材料力學(xué)性能測(cè)試到小型構(gòu)件測(cè)試,適用于針對(duì)各類材料的測(cè)試應(yīng)用,例如各類復(fù)合材料、鋼材、鋁合金、超級(jí)合金等等。

LSI電液伺服動(dòng)靜萬能試驗(yàn)系統(tǒng)載荷框架:

采用全新設(shè)計(jì),具有*的剛性且易于維護(hù)

采用高品質(zhì)作動(dòng)器,高精度機(jī)械加工立柱,激光對(duì)準(zhǔn)加工確保了系統(tǒng)的動(dòng)靜態(tài)試驗(yàn)

有對(duì)中環(huán)設(shè)計(jì),確保試驗(yàn)同軸度

易于控制的操作界面,簡(jiǎn)潔使用

液壓升降鎖緊系統(tǒng),可快速調(diào)節(jié)位置的十字頭,便于安裝試驗(yàn)件

LSI電液伺服動(dòng)靜萬能試驗(yàn)系統(tǒng)長(zhǎng)壽命低阻尼作動(dòng)器

雙出桿活塞結(jié)構(gòu)。密封方式:導(dǎo)向環(huán)+高速密封環(huán)(元器件全部進(jìn)口)。

作動(dòng)器內(nèi)置磁致伸縮位移傳感器,外置電液伺服閥。

作動(dòng)器振幅極限位置設(shè)計(jì)液壓緩沖區(qū),避免運(yùn)行失控產(chǎn)生損傷；

使用良好的先導(dǎo)式端蓋設(shè)計(jì),保證活塞的運(yùn)動(dòng)對(duì)密封件的損傷更小,使得密封件的壽命更長(zhǎng),也更能保證同軸度更好。

LSI電液伺服動(dòng)靜萬能試驗(yàn)系統(tǒng)LSI斷裂力學(xué)軟件包

斷裂韌性軟件包,包括DADN(裂紋擴(kuò)展)、門檻值,KIC、JIC和CTOD試驗(yàn)軟件;滿足包括但不限于以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 3075 金屬軸向疲勞試驗(yàn)方法
GB/T 4161-2007金屬材料 平面應(yīng)變斷裂韌度KIC試驗(yàn)方法
ASTM 1290 測(cè)量裂縫*開口位移(CTOD)裂縫韌性的試驗(yàn)方法
ASTM-E399 金屬材料線性-彈性平面應(yīng)変斷裂韌性KIC試驗(yàn)方法
HB5287 金屬材料軸向加載疲勞試驗(yàn)方法
GB/T 15248-2008 金屬材料軸向等幅低循環(huán)疲勞試驗(yàn)方法

GB/T 6395-2000 金屬材料疲勞裂紋擴(kuò)展速率試驗(yàn)方法
GB/T 21143 金屬材料準(zhǔn)靜態(tài)斷裂韌度的統(tǒng)一試驗(yàn)方法